范围
本规程适用于准确度等级为0级和1级的正弦规的首次检定、后续检定和使用中检验。
概述
正弦规是应用正弦原理，借助量块产生角度的一种计量器具，主要用于测量工件角度和圆锥体锥度。它分为0级和1级，有窄型（见图1）和宽型
（见图2）两种结构型式。
图1 窄型正弦规
1-螺钉；2-前挡板；3-主体；4-侧挡板；5-圆柱
这都是性能要求
测量面的表面粗糙度
最大允许误差要求见表1。
主体工作面的平面度
图2 宽型正弦规
1-螺钉；2-前挡板；3-主体；4-侧挡板；5-圆柱
6.3.8.2 1级的正弦规装置成30°时的角值偏差测量，首先在平板上使用量块与正弦规组成30°的角度（按图7所示），将角度置于正弦规主体工
作面上，并紧靠两挡板，然后用紧固在万能表架上的测微仪的测微头与角度块工作面接触，分别读取A，B两点的读数a和b，按式（3）计算检定结果。
6.4 检定结果的处理
按本规程规定的要求检定正弦规，发给检定证书，并注明准确度等级；不合格的应发给检定结果通知书，并注明不合格项目。
6.5 检定周期
正弦规的检定周期根据使用情况确定，一般为1年。
图7 角值偏差测量示意图
1-平板；2-前挡板；3-角度块；4-测微仪；5-侧挡板；6-正弦规主体；7-圆柱；8-量块
附录
检定证书和检定结果通知书（内页）格式
该平行度应在平行和垂直于主体工作面的两个测量方向上进行。首先按图5所示，
图4 主体工作面与两圆柱母线公切面的平行度测量位置示意图
图5 两圆柱轴线的平行度测量位置示意图
使用卧式光学计，在圆柱母线的A-A截面位置上测得一读数值DA再在B-B截面位置上测得一读数值DB，DA，与DB的差值，即为平行于主体工作面测量方向的两圆柱轴线的平行度。
然后将正弦规主体工作面向下置于00级平板（见图6）上，用带万能表架的测微仪分别在A-A和B-B两端截面位置上以一圆柱的最高母线为基准，测量两圆柱最高占间的高度偏差，两
高度偏差之差为垂直于主体工作面方向的两圆柱轴线的平行度。两方向的两轴线的平行度的最大值为检定结果。
图6 两圆柱轴线的平行度测量位置示意图
两圆柱中心距的偏差
用卧式光学计与量块以比较法检定两圆柱的直径。检定时，将正弦规立于卧式光学计工作台面上，分别在两圆柱的中间截面（即图5所示的C-C截面）上进行测量，分别测量得
圆柱1的截面直径d1c和圆柱2的截面直径d2c。
按图5所示安置正弦规于卧式光学计工作台上，用光学计和量块以比较法测量图5中C-C截面位置Dc后，将其与C-C截面位置的两圆柱直径d1c、d2c一并代入式（1）求得正弦规中
心距，该值与标称尺寸之差为检定结果。
（1）
式中：L实——正弦规中心距实际值，mm；
Dc——C-C截面位置上两圆柱外侧的距离值，mm；
d1c、d2c——两圆柱在C-C截面位置上的直径，mm；△
6.3.8 正弦规成30°时的角值偏差
6.3.8.1 0级正弦规成30°的角值偏差是在00级平板上测量。测量时，先按图7所示，用测微仪测量主体工作面上A，B两位置的数值a0和b0，然后使用量块与正弦规组成30°的角度，将
30°专用角度块置于正弦规上，并靠紧两挡板，再用测微仪测量角度块两端A，B两点的数值a1和b1，接着在平板原位置上，置换量块于正弦规的另一端，重复上述方法，分别测得a3，b3
，b4，按式（2）计算检定结果。
（2）
式中：△a——正弦规的角值偏差，（”）；
∫——测微仪在A，B两点间的距离（应不小于66mm），mm；
△∫——标准角度的角值偏差，（”）；
（一）检定证书的内页格式
| 序号 | 检定项目 | 单位 | 检定结果 |
| 1 | 测量工作面的表面粗糙度 | μm | |
| 2 | 主体工作面平面度 | μm | |
| 3 | 主体工作面与两圆柱下部母线公切面的平行度 | μm | |
| 4 | 两圆柱轴线的平行度 | μm | |
| 5 | 两圆柱中心距的偏差 | μm | |
| 6 | 正弦规成30°时的角值偏差 | （”） |
最大允许误差要求见表1。
主体工作面与圆柱母线公切面的平行度
最大允许误差要求见表1。
表1 计量性能要求
| 序号 | 检定项目名称 | 结构型式 | L=100mm | L=200mm | 备注 | ||
| 0级 | 1级 | 0级 | 1级 | ||||
| 1 | 测量面的表面粗糙度（μm） | 窄型、宽型 | 1.主体工作面：R。0.08 2.圆柱体表面：R。0.04 3.前挡板和侧挡板工作面：R。1.25 |
||||
| 2 | 主体工作面的平面度（μm） | 1 | 2 | 1.5 | 2 | 中间不允许凸 | |
| 3 | 主体工作面与圆柱母线公切面的平行度（μm） | 1 | 2 | 1.5 | 3 | ||
| 4 | 两圆柱轴线的平行度（μm） | 窄型 | 1 | 1 | 1.5 | 2 | 全长上 |
| 宽型 | 2 | 3 | 2 | 4 | |||
| 5 | 两圆柱中心距的偏差（μm） | 窄型 | ±1 | ±2 | ±1.5 | ±3 | |
| 宽型 | ±2 | ±3 | ±2 | ±4 | |||
| 6 | 正弦规成30°时的角值偏差（μm） | 窄型 | ±5 | ±8 | ±5 | ±8 | |
| 宽型 | ±8 | ±16 | ±8 | ±16 | |||
两圆柱轴线的平行度
最大允许求见表1
两圆柱中心距的偏差
最大允许要求见表1
正弦规成30°时的角值偏差
最大允许误差要求见表1
通用技术要求
外观
正弦规的各工作面上应无锈蚀、碰伤、划痕和毛刺。
正弦规应标明制造厂（或厂标）、
标志、规格及出厂编号。
磁性
正弦规应无磁性。
使用中与修理后的正弦南侧允许有影响测量准确度的上述缺陷。
计量器具控制
计量器具控制包括首次检定、后续检定和使用中检验。
检定条件
环境条件
实验室的温度为（20±1）℃，每小时变化应大于1℃。
检定前，应将正弦规置于室内平板上不少于1h，或置于室内不少于3h。
主要检定器具及其技术要求
主要检定器具及其技术要求见表2
表2 主要检定器具及其技术要求
| 器具名称 | 技术要求 | |
| 0级正弦规 | 1级正弦规 | |
| 表面粗糙度比校样块 | 示值误差：+12%~-17% | 示值误差：+12%~-17% |
| 刀口形直尺 | 0级 | 0级 |
| 测微仪 | 示值误差应大于0.3μm | 示值误差应大于0.5μm |
| 卧式光学计 | 示值误差应大于0.20μm | 示值误差应大于0.20μm |
| 平板 | 00级 | 0级 |
| 量块 | 3等 | 3等 |
| 角度块 | 0级 | 0级 |
检定项目
正弦规检定项目见表3。
表3
| 序号 | 检定项目 | 首次检定 | 后续检定 | 使用中检验 |
| 1 | 外观 | + | + | + |
| 2 | 磁性 | + | + | + |
| 3 | 测量面的表面粗糙度 | + | - | - |
| 4 | 主体工作面平面度 | + | + | - |
| 5 | 主体工作面与两圆柱母线公切面的平行度 | + | + | - |
| 6 | 两圆柱轴线的平行度 | + | - | - |
| 7 | 两圆柱中心距的偏差 | + | - | - |
| 8 | 正弦规成30°时的角值偏差 | + | + | + |
| 注：表中“+”表示应检项目，“-”表示可不检项目。 | ||||
检定方法
外观
目力观察。
磁性
试验。
测量面的表面粗糙度
用表面粗糙度比较样块以比较进行检定。
主体工作面平面度
使用尺寸不小于主体工作面对角线长度的0级刀口形直尺，在受检工作面不少于四个位置（如图3所示）上以光隙法进行测量，取最大值作为检定结果。
图3 主体工作面平面度测量位置示意图
主体工作面与两圆柱母线公切面的平行度
检定时，将正弦规放在平板上，使坚固在万能表上架上的测微仪与主体工作面接触，接触点位置距工作面边缘约4mm，移动正弦规，按图4所示A，B，C，D四个位置分别进行测量，测
微仪测得的最大值之差即为检定结果。
两圆柱轴线的平行度